扫描电镜观察不限于样品表面,为了研究样品的内部结构、测定镀层厚度、元素扩散、填料是否均匀等,必须将样品断开,露出截面,按上述方法将断口面朝上安装,在电镜中成像。截面制备方法分为两类:直接断口和抛光截面。1.直接断口...[继续阅读]

    图9-3　探测器高低出射角对吸收程的影响在定量分析中,X射线吸收修正是重要的校正因子。电子束在样品深处激发的X射线,在出射样品的过程中受到样品基体的吸收,使实际出射强度降低了。图9-3所示为出射角不同的两个探测器,dI和...[继续阅读]

    扫描电镜属于大型精密仪器,安装与验收均有严格要求,必须予以逐项满足,才能充分发挥电镜的性能。在安装与验收过程中,厂方工程师会随时解释每个操作步骤、技术指标、注意事项等。对于用户,特别是新用户,这是了解电镜的大好...[继续阅读]

    电子束与样品相互作用产生的各种信号是扫描电镜获得广泛应用的基础。本章重点讲述扫描电镜和电子探针仪所应用的主要信号,探讨每种信号的成因、取样区域和携带信息。...[继续阅读]

    当今各个材料学科,以及地质、生物和医学各领域都要了解微米量级区域内的化学组成情况,电子探针显微分析(ElectronProbeMicroanalysis)是一种卓有成效的分析技术,对块状样品可以分析几个立方微米体积内的元素,对于薄样品分析体积要小...[继续阅读]

    1.最低检测限用最低检测限CDL来表示和识别最小谱峰的能力。CDL随多种因素的影响而变化,包括用于分析的谱线种类、加速电压、基体、探测效率、样品的几何条件、计数时间和峰背比等,对于低于Na以下的轻元素均不能准确检测,而对...[继续阅读]

    元素定性分析涉及两个内容:①确定样品中各元素的组成;②确定元素在样品中的分布状态。1.确定元素组成定性分析就是要识别和标定能谱中出现的所有谱峰分别属于哪个元素,一个都不能遗漏。定性分析的依据就是识别元素的特征...[继续阅读]

    锂漂移硅探测器自从问世以来,多年来成为能谱仪的基本配置。硅锂探测器的X射线能量耗散区,也称本征区,是在制备过程中形成的,为此硅晶体必须长期保持在液氮低温下才能正常工作,给使用造成不便;另外由于结间电容大,探测器的死...[继续阅读]

    1.人眼分辨率人眼分辨率通常指在正常照明条件下,肉眼可以分辨出两个最近物点的距离。一般认为在250mm的明视距离上,人眼分辨率为0.2mm,如图1-1所示。图1-1　人眼分辨率为了提高分辨率,通常借助光学放大系统,例如使用10倍放大镜...[继续阅读]

    对于某些导电性差的材料,例如半导体、集成电路、印制板、电脑零件、纸张、纤维,或者含水的动植物样品,要求直接观察微观形貌,使用常规高真空扫描电镜受到限制。现在各电镜厂家均可提供低真空(Lowvacuum)或可变压力(Variablepres...[继续阅读]