利用射线能量来优化图像质量,其实质是在提高射线能量来增加曝光量,还是降低射线能量来提高对比度之间做出平衡的选择。曝光量与对比度噪声比之间的关系是非常复杂的。首先是因为大多数物体都是由多元素构成的,因而需要确...[继续阅读]

    细节是指图像中的缺欠、像质计等细小结构。...[继续阅读]

    传统的增感屏-胶片系统,射线穿过工件后引起增感屏发射光子,这些可见光子引起胶片乳胶层曝光,增感屏发射出来的光子取决于其化学成分、密度、厚度和射线能量,材料的化学成分决定了吸收的射线光子数和激发出的光子数。胶片系...[继续阅读]

    1)将16mm的铜板放在探测器上覆盖一半的区域。2)使用120kV管电压曝光5min,未被覆盖的区域幅值达到满幅值的80%。3)关闭射线源,移去铜板。4)使用同样的管电压和1/10的射线剂量继续曝光,采集30s时间内的积分图像,可以看到在前面放置铜板...[继续阅读]

    透射式X射线管的阳极是一种薄膜材料,电子轰击阳极靶后产生的X射线直接穿透阳极而发射出来,这种结构在微焦点X射线源中被广泛使用,透射式X射线管的结构如图3-16所示。图3-16 透射式X射线管结构透射式X射线管放弃了反射式的厚靶...[继续阅读]

    这种检测方式使用直线形线阵列探测器,是最常见的一种结构形式,可以使用直线形单线阵列、直线形多线阵列和双能线阵列探测器,结构形式如图12-5所示。采用直线形线阵列探测器的平移扫描检测方式,一次只能从探测器读出一行数据...[继续阅读]

    显卡(Video card,Graphics card)的全称是显示接口卡,又称显示适配器,是计算机系统中最基本、最重要的配件之一。显卡作为计算机主机的一个重要组成部分,是计算机进行数模信号转换的设备,承担输出显示图像的任务。显卡安装在计算机...[继续阅读]

    美国有关射线数字成像检测技术的标准主要有:针对实时成像的ASTM E1255《射线实时成像检测方法》和针对数字照相(DR)的ASTM E2698《使用DDA的射线检测方法》。针对锅炉压力容器的有:ASME BPVC V article2(射线检测)的强制性附录IX《射线数字...[继续阅读]

    帧速是探测器每秒所能输出的图像帧数。...[继续阅读]

    像素是探测器成像的最小独立单元,也可称为像元。探测器像素主要由光电感应传感器、电容器、TFT薄膜开关和行/列分布的数据线等组成。...[继续阅读]