全自动检测除具有半自动检测的所有功能以外,还利用计算机软件自动进行缺欠识别和自动评估,由软件系统直接给出“OK”或“NG”的结论,是一种无人值机的检测方法,也被称为ADR(缺欠自动识别)系统。图12-17所示为一种典型的ADR软件...[继续阅读]

    在近似于无几何放大的条件下,利用二次曲线拟合法计算得到的探测器基本空间分辨率,表示探测器可处理的最小几何尺寸。为了便于使用,经常简单表示为SRb,但须注明是探测器基本空间分辨率还是图像基本空间分辨率,二者具有不同的...[继续阅读]

    DDA从接受射线辐照到输出图像数据的过程,经过了复杂的电子电路处理。电路设计水平、元件制成技术、选用的电子元器件等级等诸多因素最终都会体现为DDA的电子噪声。DDA的电子噪声是指当探测器无射线照射时输出信号的标准偏差...[继续阅读]

    噪声背景中低对比度目标的可见性研究早已不是一个新命题。早在第二次世界大战期间,由于雷达技术非常有限,士兵在海面上都是通过瞭望镜来发现敌方的舰船。当时,美国海军对亮度多高、体积多大的舰船在夜间是可以被船员发现...[继续阅读]

    依据电工原理,变压器中的感应电动势E具有的特性如下:式中E——感应电动势(V);f——电源频率(Hz);N——线圈匝数(匝);Φ——磁通(Wb)。比值是一个与电源频率相关的常数,当f=50Hz时,该数值为4.44。也就是说,要获得相同的感应电动势,电源...[继续阅读]

    在纯净的硅晶体中掺入五价元素(如P5+),使之取代晶格中硅原子的位置,就形成了N型半导体。在纯净的硅晶体中掺入三价元素(如B3+),使之取代晶格中硅原子的位置,形成P型半导体。将P型半导体与N型半导体制作在同一块硅片上,在它们的...[继续阅读]

    为进一步比较不同分辨率的DDA和胶片成像及CR成像系统对细节的检测能力,使用相同的工件进行了像质评定。试验结果见表11-11和图11-27。表11-11 四种检测技术的像质图11-27 四种不同的X射线成像技术的图像细节对比试验结果表明:胶片...[继续阅读]

    通常情况下,对比度是指图像相邻区域的光学密度或亮度差。在传统的射线检测场合,图像对比度主要取决于两类对比度,即物体对比度和探测器对比度。物体对比度有时也称为主因对比度,它是指被检物体经过射线透照后相邻区域流出...[继续阅读]

    感光度表示胶片固有的对光反应的敏感性,规定为净密度值(D-D0)为2.0时曝光量的倒数值。通俗地说,就是高感光度的胶片只需较少曝光量即能达到低感光度的胶片需较多曝光量所能达到的密度。式中S——感光度;KS——曝光量(Gy)。...[继续阅读]

    当阳极靶呈锥形或平面时,电子束产生的X射线向360°方向发射,产生周向X射线。周向X射线管的结构如图3-18所示。图3-18 周向X射线管的结构锥靶产生的X射线基本上是对称的,平靶产生的X射线具有非对称性。周向X射线管在管道或其他对...[继续阅读]