阻抗测量有多种可选择的方法,每种方法都有各自的优点和缺点。首先需要考虑测量的要求和条件,然后选择最合适的方法。需要考虑的因素包括频率覆盖范围、测量量程、测量精度和操作的方便性。没有一种方法能够包括所有的测量...[继续阅读]

    13.4.1PCIE3.0规范的升级我们先看一下,PCIE3.0与PCIE2.0升级变化的主要内容。1)信号速率的变化首先我们看一下制定PCIE3.0规范的目的,其目的主要是要在现有的FR4板材和接插件的基础上提供比PCIE2.0高一倍的有效数据传输速率,同时保持和原...[继续阅读]

    [1][美]库姆斯主编.电子仪器手册[M].张伦等译.北京:科学出版社,2006.[2][美]罗伯特.A.威特著.频谱和网络测量[M].李景威,张伦译.北京:科学技术文献出版社,1997.[3]AgilentTechnologies,Inc.NetworkAnalyzerBasics[R/DK].Santaclara:AgilentTechnologeis,Inc.2002-05.[...[继续阅读]

    测试眼图,要求实时示波器具备多高的带宽和采样率呢?这与测试数字脉冲或高速数字信号一样,要保持测试精度,对带宽和采样率有下面的要求。(1)知道信号的最快上升时间tr。(2)计算信号带宽BWsignal(或信号最高频率分量Fmax)。BWsignal...[继续阅读]

    当然,在恒定交流电平测量中也有可能施加直流电压偏置。图11-23显示了使用0～5V(dc)直流偏置电压对具有5mV(rms)恒定交流电平的被测件进行测量的结果。如图11-23所示,在每个偏置电平上,低频范围内的电容都要比使用固定信号源电平的...[继续阅读]

    系统完整性设计与分析的必要性首先可以用一个简单的例子来说明,在前面PCB无源电路仿真结果中我们看到不同的信号频率有不同的传输特性,而信号的频谱分布是由其数据内容决定的,这些最终都将归于信号协议。一个更加实际的例...[继续阅读]

    先进射频微波测试能为技术开发提供新的技术途径,大大提高应用技术开发的效率和质量,测试仪表能在产品的概念规划,仿真设计和实物验证等阶段发挥重要作用,是核心技术突破的重要技术资源。...[继续阅读]

    现在测试PCB阻抗的仪器主要有两种:基于采样示波器的时域反射计TDR和基于网络分析仪的ENA-TDR。图7-8是典型的时域反射计TDR,由采样示波器86100D和TDR模块54754A组成,其典型的TDR指标是:硬件上升时间40ps,归一化的上升时间<25ps(最低16p...[继续阅读]

    一般我们使用的高速数字芯片带有封装,而且数字信号速度达到Gbps以上,因此不能忽略芯片封装所带来的寄生效应。针对芯片封装,安捷伦ADS提供完整的封装建模解决方案。使用ADS的电磁场仿真器Momentum或者全新的三维电磁场仿真器E...[继续阅读]

    高速背板互连的时域和频域综合分析变得越来越重要,如果单一测试解决方案能够全面描述差分高速数字互连的特性,那么就能够更好地满足实际使用的需求。物理层测试系统(PLTS)就是为这一目的而设计的。PLTS软件能够引导使用者完...[继续阅读]