第1章 复习参考题答案一、选择题1.A 2.A 3.C 4.A 5.B 6.B 7.A 8.B 9.D10.C 11.B 12.D 13.C 14.D二、判断题1.× 2.○ 3.× 4.○ 5.× 6.× 7.× 8.○三、计算题1.0.014d-1 2.2.3倍第2章 复习参考题答案一、选择题1.D 2.A 3.D 4.A 5.C 6.B 7.A 8.A 9.B10.B 11.B 12.D二、判断题...[继续阅读]

    对于间接数字化射线检测技术,由于存在后续数字化过程,在讨论探测器性能时,特别是讨论探测器基本性能时,必须引用探测器系统概念。在引用了探测器系统概念后,可对探测器系统给出基本空间分辨率和规格化信噪比可见,这时与分...[继续阅读]

    该标准在第7.3.2条对补偿规则Ⅱ(CPⅡ)做出了具体规定。补偿规则简单概括是:如果对于使用的探测器系统和曝光条件,双丝IQI值未达到规定值,可通过增加常规单丝IQI值或阶梯孔IQI值补偿。例如,要求的D12/W16指标未同时达到,则指标D11/...[继续阅读]

    气体探测器是三类(另外两类是闪烁探测器和半导体探测器)主要辐射探测器中的一类。气体探测器利用辐射对气体的电离作用实现对辐射的探测。1.气体探测器的原理气体探测器的探测介质是气体,辐射与气体作用,损失的能量使气体...[继续阅读]

    1.卷积运算概念(1)卷积定义 卷积是数学上定义的一种运算,也被称为组合乘积、叠加积分等。一般地,对两个连续函数f(x)和h(x),采用符号“*”表示卷积运算。其定义为z为积分变量。(2)卷积过程 从卷积的定义式可见,卷积得到的新函数...[继续阅读]

    在数字射线检测技术中,空间分辨率也可采用线对(测试)卡测定,但其适用的仅是测定检测系统的空间分辨率。也就是,仅适用于不存在被检测工件时的空间分辨率测定。线对卡的基本结构为两部分,高密度材料制作的栅条和低密度材料...[继续阅读]

    实验内容采用两种不同像素尺寸的分立辐射探测器(DDA),在同样透照条件下获取缺陷、双丝像质计、线型像质计的检测图像,对图像的缺陷细节变化、双丝像质计及线型像质计的可识别情况进行比对。实验器材X射线机(焦点尺寸已知或...[继续阅读]

    成像过程基本理论是深刻理解数字射线检测技术,特别是深刻理解数字射线检测技术与胶片射线照相检测技术的等价性问题的基础。下面简要介绍有关的成像过程基本理论。后面也给出了涉及卷积和傅里叶变换的简要介绍。...[继续阅读]

    一、选择题(每题的四个选项中只有一个正确答案,请将正确答案的序号填在题末括号内)1.对于各种数字射线检测系统,下面列出的必需的组成项目中,错误的是( )。A.射线源 B.探测器系统C.机械驱动装置系统 D.图像显示与存储处理单元...[继续阅读]

    A/D转换(模/数转换)器是将模拟信号转换为数字信号的器件。信号可以分为模拟信号、脉冲信号、数字信号。在时间上和幅值上连续变化的信号是模拟信号,在时间上和幅值上不连续变化的信号是脉冲信号,数字信号是由二进制数字0、...[继续阅读]