基于斜入射光反射差技术的成像系统设计及应用

光学技术页数： 5 2026-01-15

摘要：研究提出一种基于斜入射光反射差（OIRD）技术的新型快速成像系统，应用于表界面物理化学动态过程的高分辨率实时监测。系统包含光源、光路系统、样品台和检测系统四个部分，在此基础上融合信号处理技术，实时输出OIRD图像，实现微米级尺寸的横向分辨率。将OIRD成像系统应用于盐溶液沉积晶体形貌分析、油水乳状液表征、以及表面活性剂液滴蒸发过程中的马兰戈尼涡流，实现了固体表面静态表征和液体体... （共5页）

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