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EEPROM存储器动态老化试验技术研究及应用

摘要: 带电可擦可编程只读存储器(Electrically Erasable Programmable Read-Only Memory,EEPROM)作为航空航天、汽车电子、工业控制等关键系统的核心非易失性存储器件,其长期可靠性直接关乎设备数据安全。传统静态老化技术仅利用高温与偏置电压加速失效,难以模拟实际动态工作状态下的电应力损伤,故障覆盖率有限。动态老化技术通过模拟真实工作负载,... (共7页)

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