基于NAND Flash的ECC校验

电子器件页数： 5 2025-10-20

摘要：针对NAND Flash在数据存储过程中出现的小几率“位错误”,对数据存储的可靠性带来很大影响的问题，提出基于汉明码的ECC数据检测及纠正算法，可以检测2 bit错误且检测并纠正1 bit错误。选用三星生产的K9WAG08U1A,该芯片一页容量为2 kbyte,以一页为单位生成ECC校验码，增强可行性的同时可以实现1 bit/2 kbyte的纠错及2 bit/2 kbyte的检... （共5页）

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