BOS测量密度场泊松方程源项快速计算方法

航空学报页数： 12 2025-02-27

摘要：背景纹影(BOS)是非接触测量流场密度的重要手段,通常采用有限差分法求解泊松方程计算投影密度场,但现有方法计算泊松方程源项(即网格节点上光线偏折角的一阶偏导数)耗时长、突变处精度差。为此,提出基于BOS测量密度场的泊松方程源项快速计算方法。基于BOS各测量点的光线偏折角数据,创建测量点坐标与光线偏折角场间的哈希函数,旨在快速查找以给定点为中心的局部区域BOS测量点集合及其光线偏... （共12页）

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