基于改进U-Net的光学薄膜损伤图像检测方法研究

激光与光电子学进展页数： 14 2025-08-15

摘要：高功率激光系统中的光学薄膜往往面临损伤风险，而传统检测方法在识别细微损伤和复杂边缘方面存在明显不足。为提高光学薄膜损伤检测的精度，提出一种基于改进U-Net的光学薄膜损伤图像检测方法。该算法通过零样本去卷积网络（ZS-DeconvNet）对光学薄膜损伤图像完成噪声抑制与分辨率增强后，在U-Net解码器末端引入误差预测子网络与动态特征融合模块，通过辅助损失函数和边缘损失函数的联合... （共14页）

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