基于DE-GA算法的阵列天线故障检测方法

电子测量与仪器学报页数： 7 2024-11-25

摘要：为提高阵列天线故障检测的精度，提出了一种改进差分-遗传(DE-GA)算法。该算法融合了遗传(GA)算法和差分进化(DE)算法，在基因遗传过程中采取染色体双交叉策略，对陷入局部陷阱的个体信息进行重新引导；利用自适应权重优化后代的选择过程，提高算法对故障因子的灵敏性和适应能力。本文将该算法用于阵列天线的故障检测中，通过阵列公式建立天线的模型，对该模型的辐射方向图进行优化，使其与故障... （共7页）

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