储存温度对纳米氢氧化铝佐剂质量稳定性的影响（英文）

Journal of Chinese Pharmaceutical Sciences 页数： 10 2025-09-02

摘要：氢氧化铝佐剂为弱结晶勃姆石(PCB)结构,该晶体结构受储存条件的影响。本研究旨在揭示佐剂在不同储存温度条件下晶体结构及常规质量指标变化情况。三批氢氧化铝佐剂分别在2–8°C、18–25°C和37°C下储存6个月。检测佐剂的X-射线衍射、pH值、等电点(pI)、吸附率以及平均粒径。X-射线衍射显示佐剂为勃姆石结构。氢氧化铝佐剂在37°C下储存1个月,佐剂衍射图在18.2°2θ出现... ... （共10页）

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