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产前超声观察外侧裂评估胎儿脑皮质发育研究进展

中国医学影像技术页数： 3 2024-11-25

摘要：当前产前评估胎儿脑皮质发育已成为可能。外侧裂是胎儿大脑表面重要结构，亦为评估胎儿脑皮质发育成熟度及相关疾病发生、发展的重要指标。本文就产前超声通过观察外侧裂评估胎儿脑皮质发育研究进展进行述评。 ... （共3页）

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