六、X射线分析限度

所属栏目:扫描电镜与能谱仪分析技术

六、X射线分析限度

1.最低检测限用最低检测限CDL来表示和识别最小谱峰的能力。CDL随多种因素的影响而变化,包括用于分析的谱线种类、加速电压、基体、探测效率、样品的几何条件、计数时间和峰背比等,对于低于Na以下的轻元素均不能准确检测,而对 ......(本文共 1571 字 , 5 张图)     [阅读本文]>>


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