比长仪

以不接触光学定位方法瞄准被测长度，主要用于测量线纹距离的精密长度测量工具。　　比长仪一般采用测量显微镜或光电显微镜作为瞄准定位部件，并以精密线纹尺的刻度或光波波长作为已知长度，与被测长度比较而确定量值。 ......（本文共 531 字 , 1 张图）     [阅读本文] >>