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半导体光电(2025年05期)
Semiconductor Optoelectronics
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- 基本信息
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:中国电子科技集团公司第四十四研究所
:双月
:1001-5868
- 出版信息
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: 信息科技
: 无线电电子学
:6759篇
- 评价信息
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:1.25
:0.795
:
目 录
- 通过分子动力学研究3C-SiC晶体在纳米抛光中的材料去除
- 基于数字微镜器件(DMD)的高光谱成像技术研究进展
- 基于冲激响应的探地雷达快速仿真方法研究
- 激光微孔加工复合工艺研究进展
- 一种基于圆周卷积的探地雷达小波去噪算法
- 输电线路检测中的机载毫米波SAR成像技术
- 线结构光传感器误差对齿廓偏差测量的影响及误差补偿
- 面向短波红外的混合维度异质结硅APD探测集成研究进展
- 基于可饱和吸收体的复合腔窄线宽掺铒光纤激光器
- InGaAlAs/InGaAlAs量子阱混杂技术研究
- 638 nm大功率红光半导体激光器的设计与制备
- 基于复位噪声抑制与LOFIC技术的高动态CIS研究
- 基于FPGA的多通道SNSPD时间抖动测试系统
- 基于MoTe2/MoWSe4范德华异质结的近红外偏振光电探测器
- 低背景和高背景下长波碲镉汞红外探测器的性能比较
- 生长温度对金属衬底上原子层沉积氮化铝薄膜质量的影响
- 抛光垫对碲锌镉晶片双面抛光质量影响机制研究
- 基于红外-可见光双波段的扫描型宽视场成像方法
- 一种基于深度学习的荧光粉型LED色温预测新方法
- 植入式光纤光栅融合神经网络的仿生吸盘触觉感知方法
- 基于集成制冷SPAD的时间相位QKD系统
- 基于改进UFLDv2的车道线检测方法
- 基于3D-Harris关键点检测结合改进ICP的姿态估计算法
- 双光路结构面三维姿态角测量方法研究
- 预制棒POVD工艺中等离子体温度的光谱测量
- CMOS图像传感器不同时序节点的单粒子瞬态仿真模拟